新品:普雷茨特光譜共焦CHRocodile CLS 2.0線(xiàn)傳感器
普雷茨特光學(xué)光譜共焦線(xiàn)傳感器 CHRocodile CLS 2.0 是在嚴(yán)酷的工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行精 確3D在線(xiàn)質(zhì)量控制的理想工具。通過(guò)高達(dá) 36,000 條輪廓/秒的快速線(xiàn)掃，可以在很短的時(shí)間內(nèi)確定樣品的三維結(jié)構(gòu)。光譜共焦測(cè)量技術(shù)提供的數(shù)據(jù)具有極高的橫向和軸向分辨率，能夠確保對(duì)任何類(lèi)型的材料進(jìn)行測(cè)量，即使是復(fù)雜的幾何形狀也沒(méi)有陰影效應(yīng)。
此外，易于更換的光學(xué)探頭提供了高度的靈活性，使傳感器的規(guī)格符合用戶(hù)的要求。用戶(hù)可以選擇 12mm 的線(xiàn)寬，用于快速檢測(cè)大型部件，或者選擇具備優(yōu)異數(shù)值孔徑的短線(xiàn)，用于測(cè)量帶有大角度傾斜的表面，例如智能手機(jī)或手表顯示屏的倒角等。
線(xiàn)傳感器 CLS 2.0 系列非常適合如下應(yīng)用：
在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用：引線(xiàn)鍵合檢測(cè)、凸點(diǎn)測(cè)量、包裝晶圓邊緣檢查、切割槽檢查、缺陷、裸片裂縫、光掩膜光刻；
在消費(fèi)電子領(lǐng)域的應(yīng)用：外殼形貌檢查，輕微、中等和高度彎曲表面的檢查、倒角和轉(zhuǎn)角檢查、直徑/孔/梯形表面檢查、特殊高度物體的外觀(guān)檢查。
線(xiàn)傳感器 CLS 2.0 系列在亞微米范圍內(nèi)具有高精度，在醫(yī)學(xué)行業(yè)的冠狀動(dòng)脈支架檢測(cè)方面也獨(dú)具優(yōu)勢(shì)。
通過(guò)將支架放在旋轉(zhuǎn)支架上，可以方便快捷地檢查整個(gè)支架的正確曲率、直徑、變形、表面缺陷和其他不規(guī)則情況。由于配套探頭的數(shù)值孔徑很大，可以實(shí)現(xiàn)在沒(méi)有陰影影響的情況下分析支架的內(nèi)部。
